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ノンフィラー
部品埋め込み性に優れる |
CS−3305K
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品番 |
両面板
(代表品番) |
CS-3305K |
片面板 |
− |
シールド板 |
− |
プリプレグ |
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■特長
- 高い耐熱性と耐吸水性を兼ね備えた材料です。
- 長期耐熱性に優れた信頼性の高い材料です。
- 環境対応型(ハロゲンフリー)の基板材料です。
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■用途
- バーンインボード
- 部品内蔵基板
- パワーデバイス基板 など
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■スルーホール埋め込み性
高耐熱と呼ばれる基板材料は、樹脂に多くの無機充填剤(フィラー)を配合しているものがほとんどです。
フィラーは基板内に電子部品を埋め込む際、樹脂の流れを妨げる障害となります。
これに対してCS-3305Kは充填剤を含まない“ノンフィラー”タイプです。
そこでCS-3305Kのスルーホール埋め込み性について試験をしました。 |
〇試験用基板の仕様
- 板厚 0.8t(銅箔18μm)
- 穴径 0.4φ、0.9φ(スルーホールめっき)
- 穴数 540穴/(100×100o)
〇試験用プリプレグ
- ES-3310K 0.06t×2ply (CS-3305Kのプリプレグ)
- 比較材 一般高耐熱材のプリプレグ (シリカ充填) 0.06t×2ply
〇試験方法
- 基板の片側のみに試験用プリプレグを配し、プレス成型しました。
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〇スルーホール埋め込み性試験のイメージ |
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▲ES-3310K |
〇試験結果
- プレス成型後、スルーホールの断面をデジタルマイクロスコープで確認したのが下の写真です。
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<穴径=0.4mm>
ES-3310K |
比較材 |
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▲比較材の方は、樹脂の中で気泡が生じているのが見て取れます。 |
<穴径=0.9mm>
ES-3310K |
比較材 |
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▲比較材の方は、樹脂で埋まっていないスルーホールが見て取れます。 |
■高温下の絶縁破壊電圧 |
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室温(25℃)から、パワー半導体周辺の温度を想定した200℃まで、安定した絶縁耐力を発揮するとの結果を得ました。 |
■一般特性 |
項目 |
単位 |
処理 |
CS-3305K |
ハロゲンフリー対応 |
○ |
絶縁抵抗 |
常態 |
MΩ |
C-96/20/65 |
5×109 |
処理後 |
+D-2/100 |
3×108 |
体積抵抗率 |
常態 |
MΩm |
C-96/20/65 |
1×108 |
処理後 |
+C-96/40/90 |
1×108 |
表面抵抗 |
常態 |
MΩ |
C-96/20/65 |
6×109 |
処理後 |
+C-96/40/90 |
7×109 |
比誘電率(1MHz) |
常態 |
− |
C-96/20/65 |
4.1 |
誘電正接(1MHz) |
常態 |
− |
C-96/20/65 |
0.009 |
曲げ強さ |
タテ |
MPa |
A |
510 |
ヨコ |
450 |
はんだ耐熱性
(フロート) |
300℃ |
秒 |
A |
300以上 |
銅箔引き剥がし強さ |
18μm |
kN/m |
A |
1.0 |
吸水率 |
% |
E-24/50
+D-24/23 |
0.10 |
耐燃性 (UL法)
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− |
A |
94V-0相当 |
ガラス転移温度 |
TMA |
℃ |
A |
240 |
DMA |
300 |
曲げ弾性率 |
タテ |
GPa |
A |
25 |
ヨコ |
24 |
熱間曲げ弾性率 |
タテ |
GPa |
200℃ |
15 |
ヨコ |
13 |
線膨張係数α1 |
厚み |
ppm/℃ |
A |
50〜60 |
タテ |
11〜13 |
ヨコ |
12〜14 |
線膨張係数α2 |
厚み |
ppm/℃ |
A |
― |
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※上表の数値は、1.6mm厚における弊社での測定一例であり、測定方法、測定条件によって変る場合があります。
※試験方法は、JIS C 6481に基づきます。(但し、耐燃性はUL-94に準拠) |
■標準仕様 |
公称厚さ(mm) |
0.10 / 0.15 / 0.20 / 0.30 / 0.40 / 0.60 / 0.80 / 1.00 / 1.20 / 1.40 / 1.60 |
銅箔(μm) |
12 / 18 / 35 / 70 |
公称厚さは、銅箔を含まない厚さとなります。 |