CS-3305KA・ES-3310KA

カテゴリ: 電子材料

  • RISHOLITE

    CS-3305KA

    CS-3305KA

    ミドルCTE

    スルーホール信頼性に優れる

    • 両面板(代表品番):CS-3305KA
    • 片面板:-
    • アンクラッド:ES-3300KA
    • プリプレグ:ES-3310KA
  • RISHOLITE

    プリプレグES-3310KA

    プリプレグES-3310KA

特長

  • スルーホール信頼性に優れた材料です。
  • Tg=300℃ (DMA)
  • 長期耐熱性に優れた信頼性の高い材料です。
  • 環境対応型(ハロゲンフリー)の基板材料です。

用途

  • 部品内蔵基板
  • 車載機器用基板
  • パワーモジュール基板

スルーホール信頼性試験

CS-3305KAの厚み方向への熱膨張係数(CTE)はスルーホール信頼性の向上に資するとされる30~40ppm/℃(ミドルクラス)です。

そこで、0.2mm径の貫通穴が0.5mmという狭い間隔で240穴、スルーホールめっきを介して直列に接続されている基板を作成して、スルーホール信頼性を試験しました。

貫通穴の両端には抵抗計を接続していますので、240穴のうち、ただのひとつにでも、接続用のめっき面にクラックが生じると、抵抗値が突出します。

試験用基板の仕様

  • 層構成   4層板
  • 内層    CS-3305KA 0.2t(銅箔35μm)
  • 外層    プリプレグES-3310KA 0.06t×2ply、銅箔35μm
  • 穴径    0.2㎜φ
  • 穴数    240穴(30×8穴)
  • ピッチ   0.5㎜
  • めっき厚  20μm

温度サイクル条件

  • マイナス55℃の雰囲気に30分。
  • プラス150℃の雰囲気に30分。
  • 上記の雰囲気に交互に置くことを2000回繰り返す。

試験結果

CS-3305KA スルーホール信頼性試験の結果

スルーホール信頼性

いずれのサンプルの絶縁抵抗値も突出することなく安定的で、スルーホール信頼性に優れるという結果を得ました。

長期耐熱性 (175℃)

CS-3305KA 長期耐熱性 (175℃) 試験結果

パワー半導体の内部温度を想定した175℃の雰囲気に1万時間おいたあとでも、加熱による重量減少は10パーセントに留まっています。

高温下における絶縁破壊電圧

CS-3305KA 高温下における絶縁破壊電圧

室温(25℃)から、パワー半導体周辺の温度を想定した200℃まで、安定した絶縁耐力を発揮するとの結果を得ました。

曲げ弾性率の温度依存性

CS-3305KA 曲げ弾性率の温度依存性

パワー半導体周辺の温度を想定した200℃を超えても、安定した強度を保持するとの結果を得ました。

一般特性

項目 単位 処理 CS-3305KA
ハロゲンフリー対応
絶縁抵抗 常態 C-96/20/65 1.0×108
処理後 +D-2/100 2.5×108
体積抵抗率 常態 MΩm C-96/20/65 4.2×108
処理後 +C-96/40/90 2.6×108
表面抵抗 常態 C-96/20/65 1.8×1010
処理後 +C-96/40/90 1.1×1010
比誘電率(1MHz) 常態 C-96/20/65 4.4
誘電正接(1MHz) 常態 C-96/20/65 0.007
曲げ強さ タテ MPa 530
ヨコ 450

はんだ耐熱性

(フロート)

300℃ 300以上
銅箔引き剥がし強さ 18μm kN/m 1.1
吸水率 E-24/50
+D-24/23
0.09
耐燃性 (UL法) 94V-0
ガラス転移温度 TMA 240
DMA 300
曲げ弾性率 タテ GPa 26
ヨコ 25
熱間曲げ弾性率 タテ GPa 200℃ 18
ヨコ 16
線膨張係数α1 厚み ppm/℃ 50-100℃ 30~40
タテ 11~13
ヨコ 12~14
熱伝導率 (TIMテスター) W/mK 0.6~0.7

※上表の数値は、1.6mm厚における弊社での測定一例であり、測定方法、測定条件によって変る場合があります。
※試験方法は、JIS C 6481に基づきます。(但し、耐燃性はUL-94に準拠)

標準仕様

公称厚さ(mm) 0.10 / 0.20 / 0.30 / 0.40 / 0.60 / 0.80 / 1.00 / 1.20 / 1.40 / 1.60
銅箔(μm) 12 / 18 / 35 / 70

公称厚さは、銅箔を含まない厚さとなります。